触发式测头和扫描式测头

在数控机床中，触发式测头和扫描式测头是两种常见的在机测量技术，汉测测量提醒您，它们各自具有不同的特点和适用场景：

触发式测头（TouchTriggerProbes）

触发式测头是通过触碰工件表面来进行位置测量的。当测头的触感针触碰到工件时，针尖偏转，从而触发一个开关信号，该信号被发送到数控系统，用来计算被测点的坐标位置。

优点：

•简单且易于使用。

•对于单个测量点非常快速和准确。

•适用于工件设置、特征测量以及检测工件的在位情况。

缺点：

•仅在测头与工件接触点提供数据。

•不适合测量复杂形状或连续曲线。

•测量速度较慢，因为每个点都需要单独接触。

扫描式测头（ScanningProbes）

扫描式测头可以在与工件表面接触的同时沿着工件表面移动，持续收集数据点。这允许它们捕获工件的连续轮廓数据，从而用于分析工件的实际几何形状。

优点：

•能够连续测量，获取大量数据点，适合复杂形状和曲面。

•可以快速获取工件的全面数据，适合做详细的形状和尺寸检验。

•收集到的数据可以用于详细分析和逆向工程。

缺点：

•相对于触发式测头，复杂度和成本更高。

•需要更复杂的数据处理和分析软件。

•测量过程中对机床和测头的稳定性要求更高。

触发式测头和扫描式测头两种类型的测头都需要定期的校准，以确保测量的准确性。在选择适合的测头时，需要考虑到生产环境、工件的复杂性、所需的测量速度和精度，以及成本因素。触发式测头适合简单快速的点测量，而扫描式测头适合对形状复杂、需要高精度轮廓数据的工件进行测量。