触发式测头和光学测头是数控机床产生加工中常见的两种不同的测量方法，相较于直接工件表面的触发式测头，根据光的物理特性进行测量的光学测头相比，两者的区别在哪?哪个好?

　　触发式测头和光学测头的区别：

　　一、采集方式不同

　　触发式测头是一个一个点逐次获取的方式，通过测头不离开零件表面的方式来提高取点速度，属于单点采集;

　　光学测头在光源维度上分为点光源、线光源和面光源，针对需要大面积轮廓的空间点坐标，线扫描测头可通过一条由若干点的激光在工件表面移动，即可扫描一片区域;面扫描测头是通过一组编码的光线栅格，一个性便可获取一个特定大小区域内的点云。

　　二、是否产生余弦误差

　　触发式测头采点时，测头记录的是测球中心的空间坐标，根据测球半径来进行补偿，得出实际点的坐标;但在测量特定位置的三维曲线时，就会存在按照测点的法线方向采点，会存在半径补偿余弦误差;但若按照测点的法线方向采点，就会产生实际测点位置出现偏差;

　　而光学测头是直接利用光点的反射信号来获取被测点的坐标，不存在半径补偿环节。

　　三、光线的可触及性不同

　　测球的各个部位都可以通过触发式来采点，而光学传播是沿直线的，线无法“转弯”，因此，径深比很小的孔、L性测针的应用场景，触发式测头相较于光学式测头更为方便。

　　汉测机床测头适用于高精度零件检测、薄壁零件检测、模具曲面检测、大尺寸零件在线检测、大批量在线测量、涡轮叶片检测等。

　　触发式测头和光学测头哪个好?从以上三方面的对比中，光学测头的优势似乎更明显，但并非意味着光学测头可以完全取代触发式测头。两者可以说是互补，面对市面上多类型产品，如何选择?最终还是取决于测量需求。